际诺斯键合光学检测设备凭借高精度技术、智能数据管理和定制化服务为客户提供可靠的质量控制解决方案，通过持续的技术迭代和美国原厂的专业支持帮助客户实现高效、稳定的生产目标。
高精度检测技术
际诺斯键合工艺光学检测设备配备2000万像素相机可以检测1μm以下的微米级缺陷符合半导体行业标准，多角度环形光源与同轴光源的结合有效地消除反光干扰让缺陷识别率达98%以上，结合集成美国原厂视觉技术和AI算法输出精准的图像报告。
智能数据管理
设备搭载MES系统，支持从原料到成品的生产全周期数据追溯，AI算法根据数据动态优化检测策略确保高质量检测结果，系统还能兼容多种生产场景，支持快速工艺调整，满足小批量、多品种生产需求。
定制化技术、服务支持
际诺斯提供额外的定制化非标自动化解决方案，设备服务涵盖售前需求分析、方案设计、设备调试和售后维护等服务，工程师团队提供全流程技术支持，快速响应客户需求，确保设备稳定运行不停产。
际诺斯总结
际诺斯的AOI光学检测设备区别于普通的AOI检测设备，可以检测半导体圆晶的键合工艺的缺陷，设备检测精准、识别率高，支持数据追溯与动态优化，额外提供非标方案定制以及全流程的服务，确保客户能够高效稳定的生产。
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