键合工艺的光学检测设备的结构组成
2025-07-18

键合工艺的光学检测设备是通过高分辨率光学成像和AI图像分析技术,对键合结构进行无接触高精度检测,能够有如此强大的检测功能离不开该设备精密的组成结构。

 

键合工艺的光学检测设备的结构组成.png


对于键合工艺的AOI检测设备包含光源系统,光源系统配备可见光,红外光、紫外光等多种光源,配备滤光片等调节组件,能够检测金属、陶瓷、玻璃、塑料、半导体晶圆等多种键合材料,光学成像系统包括高分辨率CCD/CMOS传感器、成像物镜,通过偏振光或者干涉技术捕捉键合部位的缺陷,样品台系统包括精密的XYZ轴位移运动平台与电动夹持器等专用夹具来支持晶圆稳定装载,检测与分析系统通过图像采集卡和AI图像处理算法支持产品的缺陷识别、3D外貌重建以及MES系统数据对接,实现快速检测,控制系统集成各种技术和软件硬件,协同各个系统系统完成键合检测,环境控制通过无尘环境、恒温恒湿设计及减振装置,保障光学检测与机械运动性能稳定,适应多种材料的检测需求。

际诺斯总结

键合工艺光学检测系统相互协作,光源适配多材料,光学成像精准捕捉缺陷,样品台稳定承载,检测分析快速识别并对接数据,控制与环境系统保障稳定,精密结构的协同,让高分辨率成像与AI分析有效发挥,实现键合结构的高精度无接触检测。


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