除热影响区(HAZ):激光分板在高端芯片上的“隐形”挑战与应对
2025-12-02

在如今半导体技术不断进步的背景下激光分板技术已经成为封装过程中非常关键的一环,尤其是在高端芯片制造中激光切割时产生的热影响区(Heat Affected Zone,简称 HAZ)成了影响产品性能和稳定性的“隐形敌人”。

分板机.jpg

作为负责新封装技术项目全程开发与导入的工程师我们每天都在面对各种各样的问题,比如如何在保证芯片性能的同时控制成本?如何让项目高效推进?

但其实在实际生产中跨部门资源协调、供应商配合不稳定、试产周期过长等问题常常让项目变得复杂而低效,尤其是当激光分板工艺出现问题的时候,往往会导致整批芯片报废给企业带来巨大的损失。

为了解决这些问题越来越多的企业开始引入先进的工艺窗口侦测技术,而这种技术可以通过实时监控激光参数确保每一刀都落在安全的“窗口”内,从而有效避免热影响区带来的风险,不仅提高了生产的可控性,也大大减少了因工艺波动造成的良率损失。

以一家知名电子制造企业为例,他们在早期使用激光分板时,就遇到了热影响区导致芯片性能不稳的问题,多次试产失败,严重影响了项目进度。后来他们与专业设备厂商合作,引进了一台具备实时工艺监控功能的激光分板机。通过精准控制激光参数,他们成功规避了热影响区对芯片结构的潜在破坏,不仅提升了分板精度,还显著缩短了试产周期。

“以前我们总觉得激光分板就是个‘切’的动作,其实它背后有很多细节需要把控。”

这家企业的工程师说,

“现在有了这个设备,我们能随时看到激光的运行状态,心里踏实多了。”

在实际应用中,激光分板机早已不只是一个切割工具,而是保障产品质量的关键环节。随着技术的发展,现在的分板机功能越来越强大,从单纯的切割扩展到多维度的工艺控制,为高端芯片制造提供了更可靠的技术支持。

小贴士:如果你是刚接触激光分板的工程师,建议先了解清楚热影响区的概念。它就像一块“隐形的石头”,虽然看不见,但可能会影响整个产品的质量。选择有实时监控功能的分板机,能帮你避开很多“坑”。

案例补充(来自际诺斯客户第一人称讲解):

“我们之前用的是传统分板机每次做测试都要等很久才能知道结果,后来我们选用了际诺斯的激光分板机,它有个‘工艺窗口侦测’功能,能实时显示激光的功率、速度和焦点位置我们就不会因为操作不当而产生热影响区,产品稳定性明显提升,而且调试时间也缩短了不少真的帮了大忙。”

总结

激光分板虽然看起来是个“小动作”,但它背后的技术含量可不小,只有真正理解并掌握这些技术才能在高端芯片制造中走得更远、更稳。

留言板

姓名*

邮箱

验证码*

电话*

公司*

基本需求*

提交信息即代表同意《隐私政策》